E17800 - SEMI E178 - Guide for EDA Freeze Version Revision:SEMI E178-0120 - Superseded 本文書の範囲は半導体産業で使用されるトランス1，2ジクロロエチレンの提案された不純物限度の一覧作成である。

本文書の範囲は半導体産業で使用されるトランス1，2ジクロロエチレンの提案された不純物限度の一覧作成である。

SEMI 3D17 — Specification for Reference Material for Bonded Wafer Stack Void Metrology

SEMI 3D14-0523 (technical revision)

Use of phase diagrams for alloy and heat treatment design

diatomic gas comprising approximately 78% of the earth’s atmosphere

E17800 - SEMI E178 - Guide for EDA Freeze Version Revision:SEMI E178-0120 - Superseded 本文書の範囲は半導体産業で使用されるトランス1，2ジクロロエチレンの提案された不純物限度の一覧作成である。* This Standard has the option to purchase the Current document with a redline document (Current + Redline). The redline document is included with the Current document as a comparison tool to help identify changes that have been made between the Current version and the previous version (Superseded). If differences should exist between the redline document and the Current document, the Current version is the official and authoritative version. 1